諮詢熱線
13012630906
ARTICLE/ 技術文章
首頁  >  技術文章  >  薄膜測厚儀的效能簡介

薄膜測厚儀的效能簡介

釋出時間✘·╃╃:2012-08-02瀏覽✘·╃╃:1845次

 薄膜測厚儀的效能簡介 

非接觸式測厚儀的測量原理✘·╃╃:使用兩個鐳射感測器安裝在被測物(紙張)上下方│·▩,將感測器固定在穩定的支架上│·▩,確保兩個感測器的鐳射能對在同一點上₪◕₪◕。隨著被測物的移動感測器就開始對其表面進行取樣│·▩,分別測量出目標上下表面分別與上下成對的鐳射位移感測器距離│·▩,測量值透過串列埠傳輸到計算機│·▩,再透過我們在計算機上的測厚軟體進行處理│·▩,得到目標的厚度值₪◕₪◕。   
  ZTMS08非接觸式薄膜測厚儀的出現│·▩,大大提高了紙張等片材厚度測量的精度│·▩,尤其是在自動化生產線上│·▩,得到廣泛應用₪◕₪◕。
zui近英國真尚有公司研發出了新的非接觸式測量方法ZTMS08測厚儀│·▩,可以實現對薄膜的非接觸式測量│·▩,避免對紙張造成形變引起誤差₪◕₪◕。 
技術指標✘·╃╃:
     1.測量範圍✘·╃╃:(0-25)mm   2.解析度✘·╃╃:0.001mm   3.電源✘·╃╃:氧化銀電池SR44   4.工作溫度✘·╃╃:0℃~+40℃   5.儲運溫度✘·╃╃:-20~+70℃   6.相對溼度✘·╃╃:≤80%
符合標準✘·╃╃:
  QB/T 1053-98│·▩,QB/T 451.3-98
 
 

 

欧美浓毛大泬localhost,全彩本子爆乳h无遮挡,欧美日韩精品视频一区二区,99久久er这里只有精品18